Höhenprofil nanometerfeiner Strukturen, Strom und Reibungskräfte an fest-flüssig Grenzflächen abbilden
Elektrokatalyse unter dem Rasterkraftmikroskop
Eine Weiterentwicklung der Rasterkraftmikroskopie macht es nun möglich, das Höhenprofil nanometerfeiner Strukturen sowie den elektrischen Strom und die Reibungskraft an Fest-Flüssig-Grenzflächen zeitgleich abzubilden. Damit gelang es einem Team am Helmholtz-Zentrum Berlin (HZB) und am Fritz-Haber-Institut (FHI) der Max-Planck-Gesellschaft, elektrokatalytisch aktive Materialien zu analysieren und Einblicke zu gewinnen, die für die Katalysatoroptimierung hilfreich sind. (Grafik: Korrelative Rasterkraftmikroskopie: Spitze tastet Oberfläche ab und misst Kraftwechselwirkungen zwischen Spitze und Probenoberfläche, einschließlich Reibungskräfte – © M. Munz_FHI_HZB) weiterlesen…